Home>Products & Services>Semiconductor>辅助设备 Facility>AE FP8000 微控四探针测试仪 AE FP8000 Micro-control four-point prober
Products& services Products & services
Semiconductor
AE FP8000 微控四探针测试仪 AE FP8000 Micro-control four-point prober

微控四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备,专用于测试硅单晶的体电阻率,渗杂半导体(如扩散层及异型外延的薄层电阻)以及金属薄层电阻。微控四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备,用于测试硅单晶的体电阻率,渗杂半导体(如扩散层及异型外延的薄层电阻)以及金属薄层电阻

应用领域:

  集成电路,光伏,功率半导体,微机电系统

联系方式
XML 地图 | Sitemap 地图